Suvestinė redakcija nuo 2001-02-10 iki 2008-04-30
Įsakymas paskelbtas: Žin. 2000, Nr. 99-3161, i. k. 100236BISAK00000176
VALSTYBINĖS METROLOGIJOS TARNYBOS DIREKTORIUS
Į S A K Y M A S
DĖL KOMPLEKSINĖS METROLOGIJOS SPECIALISTŲ RENGIMO KVALIFIKACIJOS TOBULINIMO IR PERKVALIFIKAVIMO PROGRAMOS PATVIRTINIMO
2000 m. lapkričio 8 d. Nr. 176
Vilnius
Siekdamas, kad matavimų vienovės laidavimo sistemoje dirbančių, taip pat matavimo priemonių patikrą bei kalibravimą atliekančių specialistų kvalifikacija atitiktų šiuolaikinį Europos Sąjungos valstybių metrologijos specialistų lygmenį, taip pat Tarptautinės teisinės metrologijos organizacijos (OIML) rekomendacijas, suderinęs su Kauno technologijos universitetu (KTU),
1. Patvirtinu Kompleksinę metrologijos specialistų rengimo, kvalifikacijos tobulinimo ir perkvalifikavimo programą (pridedama).
2. Egzaminams priimti sudarau tokios sudėties komisiją:
Pirmininkas:
V. Zabolotnas |
– |
Valstybinės metrologijos tarnybos direktoriaus pavaduotojas |
Nariai:
dr. doc. V. Dailidėnas |
– |
KTU Metrologijos institutas (suderinta) |
dr. doc. R. Dovidavičius |
– |
KTU Metrologijos institutas (suderinta) |
dr. doc. E. Gudelevičius |
– |
KTU Profesinio tobulinimo centras (suderinta) |
dr. doc. L. Naginevičienė |
– |
KTU Mechanikos fakultetas (suderinta). |
3. Egzaminus organizuoti pavedu Kauno technologijos universiteto Metrologijos institutui (suderinta).
Nustatau, kad:
– metrologams, išlaikiusiems egzaminą, išduodamas nustatytos formos specializacijos pažymėjimas, kurio galiojimo trukmė 3 metai.
– metrologams, išlaikiusiems valstybinį kvalifikacinį egzaminą patikros teisei įgyti, išduodamas nustatytos formos kvalifikacijos pažymėjimas, kurio galiojimo trukmė – 3 metai.
Punkto pakeitimai:
Nr. 19, 2001-02-06, Žin., 2001, Nr. 13-423 (2001-02-09), i. k. 101236BISAK00000019
PATVIRTINTA
Valstybinės metrologijos tarnybos
direktoriaus 2000 11 08
įsakymu Nr. 176
Kompleksinė metrologijos specialistų rengimo, kvalifikacijos tobulinimo ir perkvalifikavimo programa
Kompleksinės metrologijos specialistų rengimo, perkvalifikavimo ir kvalifikacijos kėlimo programos tikslas yra parengti metrologijos specialistus pagal vienodus ir tarptautinį lygį atitinkančius reikalavimus bei kvalifikacines normas.
Ši programa yra 1995 m. Kompleksinės metrologijos specialistų rengimo, perkvalifikavimo ir kvalifikacijos kėlimo programos, kuri buvo patvirtinta Lietuvos ŠMM, suderinta su Lietuvos standartizacijos departamentu, antra redakcija. Ją sudarant buvo įvertinta matavimų inžinerijos ir metrologijos specialistų rengimo kvalifikacijos tobulinimo ir perkvalifikavimo patirtis bei teisinės ir industrinės metrologijos plėtros tendencijos.
Programa aprobuota Kauno technologijos universiteto „Matavimų inžinerijos (T010)“ mokslo krypties kvalifikacinėje komisijoje.
A. Parengimo lygiai
Kompleksinė programa numato trijų profesinio pasiruošimo lygių metrologinį specialistų parengimą bei jų kvalifikacijos tobulinimą.
1. Metrologas, turintis aukštąjį ar aukštesnįjį techninį (ar jį atitinkantį) išsilavinimą ir baigęs metrologijos kvalifikacinius kursus, galintis, pasinaudodamas patikros ar kalibravimo metodika, atlikti atitinkamų fizikinių dydžių ar jų grupių matavimo priemonių kalibravimą. Metrologo kvalifikacija leidžia jam vykdyti matavimo priemonių metrologinę priežiūrą ir aptarnavimą firmose ir įmonėse. Išlaikius valstybinį kvalifikacinį egzaminą, jam gali būti suteikta teisė vykdyti teisinės metrologijos sričiai priskirtų matavimo priemonių patikrą.
2. Inžinierius metrologas, turintis aukštąjį techninį išsilavinimą (bakalauro ar jį atitinkantį) ir baigęs vienerių metų programos „Taikomoji metrologija“ studijas Kauno technologijos universitete bei apgynęs diplominį darbą.
3. Matavimų inžinerijos mokslų magistras, turintis aukštąjį techninį išsilavinimą ir dvejų metų studijose įsisavinęs praplėstą matavimų technikos bei metrologijos modulių kompleksą, turintis mokslinio–tiriamojo darbo įgūdžius ir įgijęs magistro mokslinį laipsnį pagal matavimų inžinerijos mokslo kryptį, apgindamas magistro baigiamąjį darbą. Matavimų inžinerijos magistro mokslinis laipsnis suteikia prioritetinę teisę tęsti studijas matavimų inžinerijos mokslo krypties doktorantūroje.
B. Parengimo būdai
Numatomos keturios metrologijos specialistų, dirbančių šalies matavimų vienovės laidavimo sistemoje, parengimo ir jų kvalifikacijos tobulinimo formos:
2. Trumpalaikiai kvalifikacijos tobulinimo kursai–seminarai, skirti atskirų rūšių matavimo priemonių patikros ir kalibravimo metodų įsisavinimui.
3. Inžinieriaus metrologo studijos ir perkvalifikavimo kursas, suteikiantis aukštąjį metrologinį išsilavinimą.
C. Metrologų parengimo formos
Profesinio parengimo ir kvalifikacijų tobulinimo forma |
Kvalifikacijos įgijimas ir tobulinimas |
Pouniversitetinės studijos |
||
Kvalifikaciniai kursai |
Specializacijos kursai–seminarai |
Inžinerinės studijos. Perkvalifikavimas |
Magistratūra |
|
Klausytojų išsilavinimas |
Aukštasis ar aukštesnysis techninis (ar analogiškas) išsilavinimas |
Aukštasis techninis išsilavinimas (inžinieriai, bakalaurai) |
||
Tikslai |
Kvalifikacijos įgijimas ir tobulinimas. Atskirų matavimo rūšių MP priežiūra, jų kalibravimas ir patikra |
Kvalifikacijos tobulinimas, specializacija naujose srityse |
Inžinerinė specializacija |
Mokslinė–metrologinė specializacija |
Įgyjama kvalifikacija |
Metrologas, galintis dirbti kalibravimo ir patikros laboratorijose, vykdyti matavimo priemonių priežiūrą įmonėse |
Inžinierius metrologas |
Matavimų inžinerijos mokslų magistras |
|
Įgytos kvalifikacijos įvertinimas ir pažymėjimo forma |
Valstybinis egzaminas (patikros teisei įgyti). Kvalifikacijos pažymėjimas |
Egzaminas, specializacijos pažymėjimas |
Diplominis darbas, inžinieriaus diplomas |
Magistro tezės, magistro diplomas |
Trukmė |
160 valandų |
40–60 valandų |
Vieneri metai (40 kreditų) |
Dveji metai (80 kreditų) |
I. Metrologų parengimo programa
Kvalifikacija: metrologas
Disciplinos pavadinimas |
Trukmė, val. |
1. Matavimų vienovės sistema ir metrologijos pagrindai 2. Matavimo priemonių kalibravimas ir patikra 3. Atitikties įvertinimo sistema 4. Matavimo metodai ir priemonės* (pagal specialybės pobūdį) 5. Kompiuterių taikymas metrologinėje praktikoje 6. Praktiniai darbai (laboratoriniai darbai, pratybos) |
18 12 10 50 26 44 |
Iš viso: |
160 |
* Neelektrinių dydžių matavimo specializacija
a) Neelektrinių dydžių matavimo priemonių technikos elementai – 10 val.
b) Neelektrinių dydžių matavimo metodai ir priemonės – 40 val.
Elektrinių matavimų specializacija
Elektrinių dydžių matavimo metodai ir technika – 50 val.
Fizikinių–cheminių matavimų specializacija
Fizikinių–cheminių dydžių matavimo metodai ir cheminės metrologijos pagrindai – 50 val.
Radiacijos matavimų specializacija
Jonizuojančiosios spinduliuotės matavimų metodai ir priemonės. Radiacinė specifika – 50 val.
Išlaikius Valstybinį egzaminą, išduodamas nustatytos formos metrologo–tikrintojo kvalifikacijos pažymėjimas.
II. Kvalifikacijos tobulinimo ir specializacijos kursų – seminarų programa
Kvalifikacija: metrologas
Disciplinos pavadinimas |
Trukmė, val. |
1. Dabarties metrologijos plėtros tendencijos ir praktinės problemos 2. Matavimų neapibrėžtis ir jos įvertinimo bei fiksavimo būdai 3. Specializacijos srities metodai ir priemonės, jų kalibravimas 4. Praktiniai darbai |
6 10 34 10 |
Iš viso: |
60 |
Gavus įskaitą (atsiskaičius už teorinį kursą ir praktinę dalį), išduodamas kursų baigimo pažymėjimas.
III. Studijų programa Taikomoji metrologija
Kvalifikacija: inžinierius metrologas
Taikomoji metrologija yra profesinių studijų kryptis, kurioje asmenys, turintys aukštąjį techninį išsilavinimą, gali įgyti inžinieriaus metrologo kvalifikaciją. Inžinieriaus metrologo veiklos sritis yra matavimo priemonių metrologinis aprūpinimas – matavimo rezultatų vertinimas ir apdorojimas, kalibravimo ir patikros metodikų kūrimas, etalonų priežiūra ir aptarnavimas, matavimo priemonių kalibravimas ir patikra, matavimo priemonių ekspertinis vertinimas ir kt. Profesinis pasiruošimas atitinka reikalingą lygį darbui etalonų, kalibravimo ir patikros, taip pat bandymų laboratorijose, metrologinėje inspekcijoje.
Kvalifikacijos normos lygis: OIML (tarptautinė teisinės metrologijos organizacija) kvalifikacinės normos. Įgyjama kvalifikacija – diplomuotas inžinierius metrologas.
Studijų trukmė dieninėse studijose – du semestrai.
Disciplinų paketas
D1 semestras |
D2 semestras |
||||
Kodas |
Studijų moduliai |
Kreditai |
Kodas |
Studijų moduliai |
Kreditai |
T110S503 |
Metrologija ir matavimų teorija |
4 |
T000S003 |
Diplominis projektavimas |
16 |
T110S506 |
Fizikinių dydžių matavimas |
6 |
T000S004 |
Diplominė praktika |
4 |
T110S504 |
Matavimų automatizavimas ir kompiuterių taikymas |
4 |
|
Iš viso: |
20 |
T110S507 |
Matavimo priemonių kalibravimas ir patikra |
2 |
|
|
|
T170S521 |
Matavimo priemonių projektavimas, gamyba ir priežiūra |
2 |
|
|
|
|
Alternatyvos |
2 |
|
|
|
|
Iš viso: |
20 |
|
|
|
Alternatyvos
T110M501 Matavimo keitikliai ir sensoriai |
2 kr. |
T170S503 Elektronikos elementai |
4 kr. |
1. Turintiems neelektrinio profilio išsilavinimą, modulis T170S503 privalomas.
2. Kreditas atitinka 40 val. studijų laiko, įskaitant auditorinių užsiėmimų ir savarankiško pasiruošimo laiką.
IV. Matavimų inžinerijos magistro studijų programa
Mokslo kryptis: Matavimų inžinerija
Matavimų inžinerijos mokslo krypties magistro studijų turinį sudaro orientuotas modulių kompleksas, apimantis bazines metrologijos ir matavimų metodologijos žinias, papildančias ir praplečiančias įgytą specialybę. Studijų tikslas – pasirengti savarankiškam darbui, kuriant sudėtingus eksperimentinio tyrimo metodus ir matavimo priemones, sprendžiant metrologines problemas, taip pat šios mokslo krypties doktorantūrai.
Šioms studijoms būtinas technologijos mokslo srities bakalauro laipsnis. Neelektrinio profilio bakalauras papildomai turi išklausyti elektronikos pagrindų kursą.
M1 semestras
Disciplinos kodas |
Disciplinos pavadinimas |
Disciplinos trukmė, kreditais |
P170M339 |
Optimizavimo metodai ir algoritmai |
4 |
T000M005 |
Tiriamasis darbas 1 |
4 |
T110D810 |
Elektrinių dydžių matavimo metodai ir technika |
4 |
T121M501 |
Skaitmeninis signalų apdorojimas |
4 |
|
Laisvai pasirinkti |
4 |
|
Iš viso: |
20 |
M2 semestras
Disciplinos kodas |
Disciplinos pavadinimas |
Disciplinos trukmė, kreditais |
T000M006 |
Tiriamasis darbas 2 |
4 |
T110D811 |
Neelektrinių dydžių matavimo metodai |
4 |
T110M501 |
Sensoriai ir matavimo keitikliai |
4 |
|
Alternatyvos 14 |
4 |
|
Laisvai pasirinkti |
4 |
|
Iš viso: |
20 |
Alternatyvos 14
P170M118 Taikomieji statistiniai modeliai |
4 |
T121M001 Skaitmeniniai signalų procesoriai |
4 |
M3 semestras
Disciplinos kodas |
Disciplinos pavadinimas |
Disciplinos trukmė, kreditais |
T000M007 |
Tiriamasis darbas 3 |
8 |
T110D801 |
Metrologija ir matavimų metodologija |
4 |
T170M608 |
Mokslinio darbo automatizavimo sistemos |
4 |
|
Alternatyvos 15 |
4 |
|
Iš viso: |
20 |
Alternatyvos 15
T110M602 Mikrobanginiai matavimai
T110M603 Ultragarsiniai matavimai
T210M212 Nearomosios kontrolės ir introskopijos metodai
M4 semestras
Disciplinos kodas |
Disciplinos pavadinimas |
Disciplinos trukmė, kreditais |
T000M008 |
Magistro tezės |
20 |
|
Iš viso: |
20 |
______________
Pakeitimai:
1.
Valstybinė metrologijos tarnyba, Įsakymas
Nr. 19, 2001-02-06, Žin., 2001, Nr. 13-423 (2001-02-09), i. k. 101236BISAK00000019
Dėl Valstybinės metrologijos tarnybos direktoriaus 2000 m. lapkričio 8 d. įsakymo Nr. 176 "Dėl kompleksinės metrologijos specialistų rengimo kvalifikacijos tobulinimo ir perkvalifikavimo programos patvirtinimo" dalinio pakeitimo